Микроскоп-микроанализатор РЭММА-2000

Наличие:
В наличии
Наличие актуально на 20-11-2024
Гарантия 12 месяцев

Товар сертифицирован

Код товара: 22054

Обозначение: РЭММА-2000

Гарантия и сервис

Связаться с нашим менеджером и сообщить о неисправности

Нашли дешевле?

Микроскоп-микроанализатор РЭММА-2000 предназначен для решения широкого круга проблем в таких областях науки и техники как материаловедение, электроника, геология, медицина и др.

Конструкция

Растровый электронный микроскоп-микроанализатор РЭММА-2000 состоит из следующих блоков и систем:

  • электронно-оптическая и вакуумная системы,
  • видеоконтрольное устройство (ВКУ),
  • система рентгеновского микроанализа,
  • контрольные образцы.

Устройство и работа

Высокие технические характеристики в растровом режиме и режиме микроанализа позволяют быстро и качественно исследовать топографию поверхности твердого тела с одновременным определением качественного и количественного элементного состава методом рентгеноспектрального анализа.

Рентгеноспектральный анализ не имеет себе равных по локальности (1 ч), чувствительности (10 - 100 ppm) и скорости проведения среди неразрушающих методов анализа для массивных и тонкопленочных образцов.

Прогнозирование прочностных и эксплуатационных характеристик металлов и сплавов, определение связи между свойствами вещества и особенностями его состава, изучение кристаллической структуры, различных дефектов не только в металлах, но и биологических объектах. Вот неполный круг задач решаемых с помощью микроанализаторов.

Электронный микроскоп РЭММА-2000 объединяет функции растрового электронного микроскопа высокого разрешения и рентгеновского микроанализатора и используется для исследования топографии поверхности различных объектов в твёрдой фазе и проведения рентгеноспектрального анализа элементного состава вещества по длинам волн и энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения.

Характеристики

Образец

Элемент

Спектр. линия

Пор. отр.

Кристалл-анализ.

Ускор. напр., кВ

Прив. интенс. имп/с×мА

Контрастность

C

C

Ka

1

PbSt

10

2.5 × 104

30

Al

Al

Ka

1

RAP

20

8 × 105

600

Ti

Ti

Ka

1

PET

30

2.8 × 106

600

Fe

Fe

Ka

1

LiF

30

8 × 105

300

SiO2

O

Ka

1

MIR-030

10

5.5 × 104

30

BN

N

Ka

1

MIR-040

10

1.1 × 104

10

C

C

Ka

1

MIR-060

10

4.2 × 105

40

B13C2

B

Ka

1

MIR-090

10

6.1 × 104

30

Be

Be

Ka

1

MIR-090

10

1.0 × 104

30

  • Разрешающая способность кристалл-дифракционного спектрометра на линии Cu Ka, не более 5,5 × 10-3
  • Разрешающая способность системы энергодисперсионного рентгеновского микроанализа на линии Mn Ka, эВ, не более 143
  • Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора(5) до урана(92)
  • Давление в колонне микроскопа, мПа, не более 1,33
  • Время откачки микроскопа от атмосферного давления до давления 6,7мПа, мин., не более 30
  • Время шлюзования объекта, мин, не более 5

Функциональные возможности и режимы работы ВКУ:

  • развертка электронного зонда по большому и малому полям, с возможностью установки зонда в отмеченную маркером на изображении точку;
  • вращение и электронное перемещение растра;
  • деление экрана;
  • отображение символьной информации об ускоряющем напряжении, увеличении, масштабной метке и ее длине, рабочем отрезке;
  • электронная индикация линейных размеров объектов;
  • обработка изображения дифференцированием, γ-коррекцией.
  • Сохранение увеличения изображения: при изменении ускоряющего напряжения от 5 до 30 кВ; при изменении рабочего расстояния от 8 до 50 мм.

Универсальный механизм перемещения объектов обеспечивает:

  • установку образца максимальным диаметром не менее 100 мм;
  • перемещение образца по координатам X, Y на ± 50мм с шагом не более 0,5 мкм;
  • перемещение по координате Z на 40 мм с шагом не более 2 мкм;
  • вращение образца на 360o;
  • наклон платформы от минус 20o до 48o;
  • точность позиционирования по координатам X, Y ± 1 мкм.
  • Требования к электропитанию: трехфазное напряжение (200 ± 22) В; частота питающей сети (50 ± 1) Гц;
  • Потребляемая мощность, кВА, не более 3,5
  • Габаритные размеры, мм, не более: каркас с колонной и вакуумной системой 970×770×1735; устройство видеоконтрольное 800×1400×780; блок питания 500×560×750; система откачки (форнасос) 555×170×290
  • Общая масса микроскопа, кг, не более 1300

Параметры систем для эксплуатации микроскопа:

  • индивидуальный контур заземления с сопротивлением, Ом, не более 4;
  • расход воды, л/мин, 3,5; давление воды в сети, кг/см2, 3-5
  • температура воды, oС 20 ± 5
  • число штуцеров для подвода воды 2
  • число штуцеров для слива воды 2
  • число штуцеров для выхлопа воздуха с форнасосов 2

    Требования к помещению для установки микроскопа:

  • площадь помещения, м2, не менее 20
  • температура воздуха в помещении, °С, 20 ± 5
  • относительная влажность, %, 50 - 80
  • уровень электромагнитного поля в диапазоне частот 50-400 Гц на расстоянии 5 см от колонны, мкТ, не более 0,3
  • уровень вибраций пола в диапазоне частот 5-20 Гц, мкм, не более 5
  • ширина входной двери, мм, не менее 1200
Похожие Микроскопы
Код: 21087
Микроскоп МПБ-2
В наличии
Код: 21083
Металлографический микроскоп XUM-500
В наличии
Код: 21081
Микроскоп серии XUM300
В наличии
Код: 21089
Микроскоп МИР-3
В наличии
Код: 18309
Микроскоп МПБ-3
В наличии